量塊計量檢定校準規(guī)范及操作流程一、量塊的應(yīng)用場景量塊是幾何量長度傳遞的基準實物量具,通過多個矩形截面的鋼制或陶瓷塊體組合成精確尺寸,用于高精度長度測量。主要應(yīng)用于以下領(lǐng)域: 1. 機械制造與精密加工 - 校準卡尺、千分尺等量具的示值誤差,保障軸類、軸承、模具的尺寸公差(如±0.001mm)。 2. 計量機構(gòu)與實驗室 - 作為長度標準器,傳遞量值至工作計量器具(如00級量塊用于省級計量院檢定精密儀器)。 3. 航空航天與汽車工業(yè) - 檢測發(fā)動機零件(曲軸、渦輪葉片)的尺寸一致性,滿足高溫高壓工況的安全要求。 4. 科研與光學(xué)制造 - 校準干涉儀、測長機,支撐半導(dǎo)體光刻機零部件、光學(xué)鏡片的微米級加工。 
二、計量檢定校準的意義保障量值溯源性
合規(guī)性強制要求
延長設(shè)備壽命與經(jīng)濟性
三、檢定校準流程(依據(jù)JJG 146-2011)1. 前期準備2. 檢定步驟| 項目 | 操作要點 | 技術(shù)指標 | |------------------------|----------------------------------------------------------------------------|---------------------| | 外觀檢查 | 測面無銹蝕劃痕、倒棱均勻、標識清晰(標稱值、級別) | 無影響精度的缺陷 | | 截面尺寸與連接孔 | 游標卡尺測量,公差±0.2mm | 符合規(guī)程表1 | | 平面度與研合性 | 平晶干涉法檢測,0級量塊平面度≤0.05μm;與平晶研合后無光隙 | 無彩色干涉條紋 | | 長度變動量 | 測量面上5點長度最大值與最小值之差(如1等量塊≤0.05μm) | 符合規(guī)程表6 | | 中心長度偏差 | 激光干涉法測量實際長度與標稱值偏差(如K級量塊允許±0.2μm) | 符合規(guī)程表7 | | 長度穩(wěn)定度 | 對比歷年數(shù)據(jù),計算年變化量:$$ l_A = frac{|l_2 - l_1|} $$(Y為年數(shù)) | 年變化≤0.02μm(00級) | 注: 檢定需增加線膨脹系數(shù)(鋼:11.5×10??/℃)、硬度(≥800HV)測試。
四、技術(shù)要求(JJG 146-2011核心指標)1. 精度等級劃分| 類型 | 等級 | 長度偏差允許范圍 | 適用場景 | |----------|--------------|---------------------|----------------------------------| | 按級 | 00、0、1、2、3、K | 00級:±0.02μm | 出廠標稱值使用(便捷) | | 按等 | 1~5等 | 1等:實際值+不確定度 | 需修正值的高精度場景(如計量院) | 2. 關(guān)鍵性能要求| 參數(shù) | 00級要求 | 1級要求 | 測試方法 | |--------------------|----------------|-----------------|---------------------| | 平面度 | ≤0.05μm | ≤0.10μm | 平晶干涉法 | | 長度變動量 | ≤0.05μm | ≤0.16μm | 5點激光掃描 | | 研合性 | 與平晶無光隙 | 允許微弱光隙 | 目視+白光干涉 | | 穩(wěn)定度 | ≤0.02μm/年 | ≤0.05μm/年 | 歷史數(shù)據(jù)比對 | 特殊要求: - 陶瓷量塊:線膨脹系數(shù)需按廠家數(shù)據(jù)修正(無數(shù)據(jù)時默認9.5×10??/℃); - 長量塊(>100mm):必須水平支撐于艾利點(距兩端0.211L),避免重力彎曲。
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