納米材料的計量檢測項目明細
納米材料的計量測試設(shè)備通常包括:場發(fā)射透射電子顯微鏡、原子力顯微鏡、X射線衍射儀、光電子能譜儀等微區(qū)微貌測試設(shè)備。主要用于進行納米測量和納米材料測試研究。納米計量和納米材料檢測與評價技術(shù)研究是納米技術(shù)的重要組成部 分,為發(fā)現(xiàn)納米領(lǐng)域的新現(xiàn)象、研究新方法、 創(chuàng)造新產(chǎn)=品提供基礎(chǔ)技;術(shù)支持和服務(wù);納米材料和器件的測量和具體性能測試將是判斷和識別納米科技產(chǎn)品的重要和基本的技術(shù)指標(biāo)，是規(guī)范市場的重要技術(shù)保證:隨著知識經(jīng)濟的發(fā)展和世界貿(mào)易的化,進入市場的產(chǎn)品必須滿足相應(yīng)的質(zhì)量檢驗要求,實現(xiàn)國家標(biāo)準(zhǔn)和檢驗實驗室報告的相互認可，這對消除技術(shù)性貿(mào)易壁壘具有重要的現(xiàn)實意義，對提高城市綜合競爭力和保持可持續(xù)發(fā)展具有長遠而深遠的意義。
納米材料計量檢測項目:
測量刻蝕掩模、磁介質(zhì)、 CD/DVD、生物材料、光學(xué)材料和其他樣品的表面特性(AFM)。:
測量半導(dǎo)體材料的摻雜濃度和禁帶寬度(SCM)。:
表面形貌觀察、微觀結(jié)構(gòu)觀察、粒度分析、斷面性質(zhì)分析、微區(qū)成分分析(SEM鐵掃描電鏡)。:
形貌觀察、物相分析、晶體結(jié)構(gòu)測定、缺陷分析、成分分析、元素分布分析和化學(xué)狀態(tài)分析(Fe-TEM)。:
固體樣品表面的成分和化學(xué)狀態(tài)分析。能在納米層區(qū)域進行定性、半定量和價態(tài)分析;
定性定量分析，晶粒大小和畸變,晶系測定,晶格常數(shù)精度，高分子材料，納米材料,長周期，粒度分布分析,極點，應(yīng)力，薄膜測試(XRD)。:
固體比表面積、孔體積和孔分布的測量(比表面積和孔院率分析儀)。:
樣品表面比表面積的紅外光譜。:
納米和亞微米尺寸顆?；蛉橐旱牧６确治隹梢詼y量平均粒度和多分散指數(shù)(PcS)。:
亞微米和微米尺寸顆?；蛉橐旱牧６确治隹梢詼y量粒度分布、平均粒度和中值直徑(激光衍射粒度分析儀。:
測量各種純液體中0.4-1200毫米范圍內(nèi)的顆粒數(shù)量和顆粒尺寸分布(顆粒計數(shù)器)。. |
